| RF多功能芯片on-wafer评估系统的研究 |
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| 引用本文： | 黄成,文忠锋,顾世玲. RF多功能芯片on-wafer评估系统的研究[J]. 环境技术, 2020, 38(4): 17-20. DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2020.04.006 |
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| 作者姓名： | 黄成 文忠锋 顾世玲 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060,中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060,中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060 |
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| 摘 要： | 评估RF多功能芯片在不同环境温度下的性能指标是十分重要的,从分析射频多功能芯片功能和主要性能指标出发,研制了一款自动化芯片在片评估系统。采用上位机进行多种芯片工作状态和设备仪器状态控制,实现了芯片在各种不同工作状态不同温度下的测试数据采集、判断和保存。经实际评估验证,该评估系统能高效高可靠性的完成射频多功能芯片在不同环境温度下的on-wafer级性能评估。
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| 关 键 词： | 射频测量 射频多功能芯片 TR组件 芯片评估 自动测试系统 |
Development of on-wafer Evaluation System for Multi-function MMIC |
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| HUANG Cheng,WEN Zhong-feng,GU Shi-ling. Development of on-wafer Evaluation System for Multi-function MMIC[J]. Environmental Technology, 2020, 38(4): 17-20. DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2020.04.006 |
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| Authors: | HUANG Cheng WEN Zhong-feng GU Shi-ling |
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