DDT及其降解产物在硅胶薄层上的紫外吸收光谱 |
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作者姓名: | 王克欧 庄永辉 戴广茂 |
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作者单位: | 中国科学院环境化学研究所(王克欧,庄永辉),中国科学院环境化学研究所(戴广茂) |
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摘 要: | 使用薄层扫描仪原位扫描方法,研究了13种DDT类化合物吸附在硅胶上的紫外吸收光谱。结合紫外光谱特征,扩大了一般薄层色谱分析分离定性能力,使DDT、DDMU、DBP和DDM这些在很多溶剂系统中展开,不易完全分离的化合物,可以在薄层板上进行定性鉴定。 通过这些化合物在薄层上的紫外光谱和其在非极性溶剂中的吸收光谱进行比较,讨论了这类化合物的紫外吸收和结构的关系。
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