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电子控制器内预浸盐雾介质腐蚀效应分析
作者姓名:郑南飞  刘俊邦  陈荻云  张少锋
作者单位:1. 工业和信息化部电子第五研究所;2. 广东省电子信息产品可靠性技术重点试验室
摘    要:为了分析盐雾侵入电子控制器内部而引起的材料和元器件腐蚀效应,通过在控制器内部引入盐雾介质,并在此基础上进一步开展交变湿热试验,分析控制器在上述环境应力下的环境影响效应。研究发现,经2h盐雾浸入后,控制器内部电路板与元器件表面有氯化钠沉积,未发现明显腐蚀,控制器功能性能正常;进一步开展交变湿热试验,试验4天后,控制器内多个电子元器件表面出现明显腐蚀,控制器功能性能正常;试验至8天,控制器内部元器件腐蚀数量增加,并且控制器出现上电和模拟量参数显示异常。对失效控制器进行故障定位分析,通过排故确定失效元器件为晶体振荡器和场效应晶体管,更换上述失效器件后,控制器功能性能正常。

关 键 词:电子控制器  预浸盐雾  腐蚀效应
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