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Neutronenbeugung an Na2Si2O5-, Na2SiO3- und SiO2-Glas und die Additivität der Intensitätsdaten |
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| Authors: | W Hoffmann P Fischer G Maier |
| Institution: | 1. Institut für Kristallographie und Petrographie der Eidgen?ssischen Technischen Hochschule, Zürich 2. Institut für Nukleartechnik der Eidgen?ssischen Technischen Hochschule, Zürich |
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