EL测试在晶硅电池及组件质量控制中的应用

针对EL测试在晶硅电池及组件质量控制中的应用,重点分析近红外检测的手段,说明其作用,通过这种方式,能够发现晶体硅太阳电池的隐性缺陷,主要有硅材料缺陷、扩散方面的缺陷及生产过程存在的缺陷等,简要分析了造成这些缺陷的原因,通过EL测试可以发现以往常规手段难以发现的品质缺陷,对提升电池品质大有裨益。