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| 国外环境样品的x—射线荧光分析近况 | |
| 引用本文： | 刘彬.国外环境样品的x—射线荧光分析近况[J].环境工程学报,1984(7). |
| 作者姓名： | 刘彬 |
| 作者单位： | 新疆环境保护科研所 |
| 摘 要： | X—射线荧光光谱分析由于具有不破坏试样,能够直接分析固体,粉末,液体及大气试样中的大量元素和痕量元素,分析速度快,准确度较高等优点,很早就引起了科学工作者的注意。1962年,Z. H. Kalman等人开始应用粉末压片法测定了岩石和土壤中的痕量元素。1968年,N. B. Price等人将岩石粉末制成薄膜样品测定了其中的Sr、Ni,Cr等元素.此后,R. H.Barnhisel等也应用粉末压片法测定了土壤和团聚体中的铁和锰。但是总的来看,在 |
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