|
|||||
|
|
| 表贴式电阻器硫化腐蚀电化学机理及失效分析 | |
| 作者姓名： | 畅玢 陈传庆 罗向阳 查远华 苟廷刚 王丹琴 |
| 作者单位： | 中国振华集团云科电子有限公司,贵阳 550018 |
| 摘 要： | 根据电化学理论分析片式膜固定电阻器导电层金属银层的腐蚀反应过程及电极电位对膜层腐蚀的机理及影响情况.并结合电阻器实际失效案例,对一只出现阻值增大的电阻器样品通过扫描电子显微镜(SEM)观察微观形貌,查找异常物质并通过能谱对异常点进行成分检测,确定其为硫化银,进一步了解了电阻器硫化失效的表现形式及产生特点. |
| 关 键 词： | 片式膜固定电阻器 导电层 硫化腐蚀 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |