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国外电子设备组件环境应力筛选技术研究
引用本文:
章黎明,叶迪镇.国外电子设备组件环境应力筛选技术研究[J].环境技术,1998,16(1):35-39.
作者姓名:
章黎明
叶迪镇
作者单位:
电子部第五研究所
摘 要:
描述电子设备组件可能引入的缺陷和产生缺陷的因素;提出剔除这些缺陷的环境应力筛选方法及其应力参数选择;分析了激发的故障模式,失效机理和筛选效果。
关 键 词:
电子组件
环境应力筛选
应力筛选
应力参数
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