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热辐射引发设备二次损坏概率的 BP 神经网络预测

引用本文：	梁,瑞,侯杉杉.热辐射引发设备二次损坏概率的 BP 神经网络预测[J].中国安全科学学报,2014(2):77-81.

作者姓名：	梁瑞侯杉杉

摘要：
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