长寿命电子设备加速寿命试验技术研究

针对工程实际中长寿命电子设备寿命评估困难的问题，基于派克（Peck）模型建立电子设备寿命消耗与温、湿度复合应力的物理化学关系，获得电子设备在加速试验应力下相对于正常工作环境下的加速因子，结合指数分布以及可靠性鉴定和验收试验理论，利用加速因子建立寿命消耗等效折算关系，计算电子设备加速寿命试验时间，通过提高经受的应力量级，刺激薄弱环节，提高试验效率，在较短的试验时间内验证了电子设备寿命满足研制的可靠性要求。