电子产品可靠性增长试验综述 |
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引用本文: | 翁雷,廖军,孙国强.电子产品可靠性增长试验综述[J].环境技术,2018(1). |
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作者姓名: | 翁雷 廖军 孙国强 |
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作者单位: | 无锡江南计算技术研究所; |
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摘 要: | 可靠性增长试验是产品研制阶段提高其可靠性的一种试验手段,其目的是为了充分暴露产品潜在故障,分析故障原因,进而提出改进意见并验证改进的有效性。本文针对国产服务器设计上、工艺上存在的薄弱环节,对其进行可靠性增长试验研究,重点介绍可靠性增长试验方案设计中的关键要素,阐述可靠性增长试验方法及实施步骤,并针对国产服务器可靠性增长试验给出方案设计及应用案例。
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