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元器件在冲击环境下的可靠性——试验、仿真与理论模型
引用本文:李骥尧,孟庆伟,唐金慧,周春燕.元器件在冲击环境下的可靠性——试验、仿真与理论模型[J].环境技术,2018(4).
作者姓名:李骥尧  孟庆伟  唐金慧  周春燕
作者单位:中国航天科工集团第三研究院第三〇三研究所;北京理工大学宇航学院
摘    要:据统计,武器型号在研制生产过程由元器件失效引发的质量问题时有发生。而大量元器件的使用失效由冲击环境造成,冲击对元器件的危害往往是致命的,引脚断裂,焊点脱落,器件腔体出现形变等等。因此型号在设计阶段必须考虑产品的冲击可靠性,比如产品级的冲击防护,类似保护箱,阻尼装置,吸能装置等,但这些产品级的防护不能完全保护元器件的可靠性。而近年来,电子元器件也朝着大规模,高集成化,小型化发展,新工艺,新材料也在不断应用,因此元器件在冲击环境下的可靠性保障工作也变得越来越有挑战性。

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