| 无损检测用X光底片伪缺陷的产生及防止方法 |
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| 引用本文： | 夏克.无损检测用X光底片伪缺陷的产生及防止方法[J].工业安全与环保,2005,31(4):59-60. |
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| 作者姓名： | 夏克 |
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| 作者单位： | 中钢集团武汉安全环保研究院,武汉,430081 |
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| 摘 要： | X光底片作为直接反映缺陷形状、大小、数量的媒介，它的质量好坏对于无损检测人员作出正确分析判断是极其重要的。总结了X光底片上伪缺陷产生的原因，并提出了相应的防止方法。
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| 关 键 词： | X光底片 伪缺陷 无损检测 |
| 修稿时间： | 2004年9月14日 |
Formation Causes for Defects of X-photographic Plate and the Prevention Measures |
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| Xia Ke.Formation Causes for Defects of X-photographic Plate and the Prevention Measures[J].Industrial Safety and Dust Control,2005,31(4):59-60. |
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| Authors: | Xia Ke |
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| Abstract: | Xphotographic plate is the medium which directly reflects the shape,size and quantity of defects and the quality of it is very important for NDT persons to make correct arrangements.In this paper,forming causes for defects of Xphotographic are summarized and some corresponding prevention methods are put forward. |
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| Keywords: | xphotographic plate false defect nondestruction testing |
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