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对经典冲击和冲击响应谱的探讨
引用本文:李苗,魏威,惠好鹏.对经典冲击和冲击响应谱的探讨[J].环境技术,2023(2):151-155.
作者姓名:李苗  魏威  惠好鹏
作者单位:西安电子工程研究所
摘    要:产品在生产、运输及使用过程中常面临各种冲击环境,容易引起产品质量和可靠性方面的诸多问题,因此在产品研制生产过程中需要进行冲击试验,本文对经典冲击和冲击响应谱试验进行原理分析,认为产品实际冲击环境非常复杂,应根据产品冲击环境的实测值和试验目的进行试验方法选择。最后根据两种试验方法的实际应用和相关标准的修订情况,提出了冲击响应谱在验证产品设计参数或可靠性等方面的优势,成为冲击试验的发展趋势。

关 键 词:冲击试验  冲击响应谱  经典冲击
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