基于双方等风险的元器件筛选批次合格判据研究

目前国际电工组织（IEC）及美军发布的标准中集成电路、混合集成电路及半导体分立器件均基于批次允许不合格率（LTPD）进行抽样，一般控制使用方风险为10%。这些标准将元器件缺陷样本数限制在25个，若超过则没法判定批次是否合格。根据美军标中抽样方案中缺陷数小于等于1时，对生产方来说风险太大，而缺陷数大于等于10时，对生产方风险接近零。元器件筛选一般为100%进行检测,其批次样本量与标准中最小样本量往往有出入。目前航空领域二次筛选规范规定的元器件允许不合格率（PDA）要求一般为15%，国内元器件很多厂家对PDA理解有偏差，将批次缺陷比例的观测值与PDA要求值直接进行比较，进一步放宽了要求。针对以上问题将美军标及国军标中的抽样方案进行了修正，提出了基于泊松分布的双方风险均等的筛选方案,并给出了涵盖所有缺陷数的合格判据。