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现代大型仪器分析第七讲——离子探针质谱及其在地学中的应用
引用本文:
周士涛.现代大型仪器分析第七讲——离子探针质谱及其在地学中的应用[J].地球与环境,1987(3).
作者姓名:
周士涛
作者单位:
中国科学院地球化学研究所
摘 要:
<正> 一、前言离子探针二次离子质谱(SIMS)是一种高灵敏度微区成分分析仪器,是固体材料“就地”微分析技术领域中最新成就。离子探针在六十年代末刚刚登上现代微分析技术舞台时,曾以它的高超性能和独有特点
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