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| 现代大型仪器分析第七讲——离子探针质谱及其在地学中的应用 | |
| 作者姓名： | 周士涛 |
| 作者单位： | 中国科学院地球化学研究所 |
| 摘 要： | <正> 一、前言离子探针二次离子质谱(SIMS)是一种高灵敏度微区成分分析仪器,是固体材料“就地”微分析技术领域中最新成就。离子探针在六十年代末刚刚登上现代微分析技术舞台时,曾以它的高超性能和独有特点 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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