土壤中痕量Z_n、C_u、N_i、C_r、P_b的X射线荧光光谱测定 |
| |
作者姓名: | 何去奢 刘彬 马跃贤 刘重业 |
| |
作者单位: | 新疆环境保护科学研究所,新疆环境保护科学研究所,新疆环境保护科学研究所,新疆环境保护科学研究所 |
| |
摘 要: | 用粉末压片法以散射线为内标,克服基体效应,对土壤中痕量Zn、Cu、Ni、Cr、Pb直接进行测定,在置信度为95%时,其检测下限可达5~10PPm,相对标准偏差为3.5~15%,重现性好,与原子吸收法对照,得到了基本一致的测量结果。此法样品勿需前处理,简单,快速,是一个精度较好的分析方法。
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|