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| 正交偏光镜垂直照射下测量非均质性强度 | |
| 引用本文： | Von S.Koritnig ,唐月青.正交偏光镜垂直照射下测量非均质性强度[J].地球与环境,1981(3). |
| 作者姓名： | Von S.Koritnig 唐月青 |
| 作者单位： | 江西南昌市4004信箱 |
| 摘 要： | <正> 如同用透射光显微镜一样,用反射光显微镜,正交偏光镜下的矿物性状在鉴定时也是一种重要的现象。虽然偏光色及其亮度在垂直照射时变得与本来性质完全不同,但这种偏光色的亮度与薄片双折射强度相似,在鉴定工作中也被用来作为衡量非均质性的尺度。 用透射光显微镜测量双折射被视为一种简单而精确的光学测量方法;然而由于缺少一种适宜而简单的测量方法,到目前为止,对于反射光显微镜下非均质 |
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