密封电子元器件的密封性结构设计

本文从实际出发,阐述密封性结构本质及其重要性之后,从理论上论证了密封性高可靠性、密封储存寿命(T)与密封泄漏时间常数(ι_A)及腔体内部密封结构参数(C_A)之间的关系,参数C_A与环境中有害气体(A)浓度(或压强)之间比值的关系。从而阐明了腔体内部密封性结构品质是以C_A值为代表的特征。提出了科学的密封性结构设计拟议,包括步骤、方法、测试装置设计及测试方法,以及在必要时采用双层腔体密封法,并进行了分析计算,肯定了此法提高ι_A值以弥补C_A值太低之不足,是行之有效的。但也同时指出应如何防止使用中的盲目性。