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飞行时间-二次离子质谱技术在大气气溶胶研究中的应用进展
引用本文:倪润祥,李红,伦小秀,温冲.飞行时间-二次离子质谱技术在大气气溶胶研究中的应用进展[J].安全与环境学报,2012,12(5).
作者姓名:倪润祥  李红  伦小秀  温冲
作者单位:中国矿业大学(北京)地球科学与测绘工程学院,北京100083;中国环境科学研究院环境基准与风险评估国家重点实验室,北京100012;中国环境科学研究院环境基准与风险评估国家重点实验室,北京,100012;北京林业大学环境科学与工程学院,北京,100083;中国环境科学研究院环境基准与风险评估国家重点实验室,北京100012;西安市环境保护科学研究院,西安710002
基金项目:国家自然科学基金面上项目,环保公益性行业科研专项项目
摘    要:在简述飞行时间-二次离子质谱技术(TOF-SIMS)的基本原理、技术特点和优势的基础上,阐述了近年来TOF-SIMS应用于气溶胶表面化学表征、气溶胶粒子化学组成深度剖析、气溶胶表面化学反应、气溶胶粒子表面毒性,以及气溶胶污染源排放特征与污染源识别等方面的研究进展,并对TOF-SIMS技术在大气气溶胶研究中的应用前景进行了展望.

关 键 词:大气科学  飞行时间-二次离子质谱  大气气溶胶  单颗粒分析  表面分析  应用进展

Application advance review on the time-of-flight secondary ion mass spectrometry in the field of atmospheric aerosol
NI Run-xiang , LI Hong , LUN Xiao-xiu , WEN Chong.Application advance review on the time-of-flight secondary ion mass spectrometry in the field of atmospheric aerosol[J].Journal of Safety and Environment,2012,12(5).
Authors:NI Run-xiang  LI Hong  LUN Xiao-xiu  WEN Chong
Abstract:
Keywords:
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