| 飞行时间-二次离子质谱技术在大气气溶胶研究中的应用进展 |
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| 引用本文： | 倪润祥,李红,伦小秀,温冲. 飞行时间-二次离子质谱技术在大气气溶胶研究中的应用进展[J]. 安全与环境学报, 2012, 12(5) |
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| 作者姓名： | 倪润祥 李红 伦小秀 温冲 |
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| 作者单位： | 中国矿业大学(北京)地球科学与测绘工程学院,北京100083;中国环境科学研究院环境基准与风险评估国家重点实验室,北京100012;中国环境科学研究院环境基准与风险评估国家重点实验室,北京,100012;北京林业大学环境科学与工程学院,北京,100083;中国环境科学研究院环境基准与风险评估国家重点实验室,北京100012;西安市环境保护科学研究院,西安710002 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金面上项目，环保公益性行业科研专项项目 |
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| 摘 要： | 在简述飞行时间-二次离子质谱技术(TOF-SIMS)的基本原理、技术特点和优势的基础上,阐述了近年来TOF-SIMS应用于气溶胶表面化学表征、气溶胶粒子化学组成深度剖析、气溶胶表面化学反应、气溶胶粒子表面毒性,以及气溶胶污染源排放特征与污染源识别等方面的研究进展,并对TOF-SIMS技术在大气气溶胶研究中的应用前景进行了展望.
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| 关 键 词： | 大气科学 飞行时间-二次离子质谱 大气气溶胶 单颗粒分析 表面分析 应用进展 |
Application advance review on the time-of-flight secondary ion mass spectrometry in the field of atmospheric aerosol |
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| NI Run-xiang , LI Hong , LUN Xiao-xiu , WEN Chong. Application advance review on the time-of-flight secondary ion mass spectrometry in the field of atmospheric aerosol[J]. Journal of Safety and Environment, 2012, 12(5) |
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| Authors: | NI Run-xiang LI Hong LUN Xiao-xiu WEN Chong |
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