基于虚拟样机的电子产品振动疲劳寿命评估方法

为研究随机振动对电子设备元器件寿命的影响,应用虚拟样机技术与随机振动疲劳模型,评估器件及电路板的随机振动疲劳寿命。重点介绍了基于虚拟的电子产品随机振动疲劳寿命的虚拟评估方法的具体流程,并以具体电路板为例进行了随机振动疲劳寿命分析。     

聚酰亚胺薄膜疲劳寿命分析和可靠性增长措施

针对某涡扇发动机加力燃油分布器内有机材料聚酰亚胺薄膜过早失效的问题,基于聚酰亚胺薄膜的材料参数以及薄膜使用时的温度和波动幅值,通过在ANSYS软件中建立了聚酰亚胺薄膜有限元仿真模型,研究薄膜发生以断裂为主要形式的失效时,薄膜的Mises应力分布情况以及薄膜的薄弱区分布情况。基于概率断裂力学的疲劳寿命计算理论得到了不同可靠度下薄膜的疲劳寿命循环次数及其变化规律。结果表明：薄膜存在应力集中,且薄膜的应力集中部位与薄弱区均发生在薄膜夹持外沿;计算得到了不同可靠度下薄膜的疲劳寿命循环次数,且疲劳寿命循环次数随可靠度的提升而不断降低。     

绝缘结构综合应力加速寿命试验方法研究

针对绝缘结构在实际使用过程中受到综合应力因素的影响的特点,提出了一种基于综合应力的绝缘结构可靠性评估方法,可以有效地指导绝缘结构加速寿命试验的设计和实施。首先通过对绝缘结构进行失效机理及应力分析,确定影响绝缘结构寿命的主要应力,选取适当的综合应力加速模型。其次,确定各加速应力水平,进行综合应力加速寿命试验方案的设计。最后,基于失效数据对绝缘结构进行可靠性评估。     

航空电子产品元器件选择研究

结合航空电子产品的特点,从电子产品研制单位的角度分析航空电子产品元器件可靠性选择的原则和工作要素。分析了元器件选择准则、优选目录、质量等级、筛选试验、DPA、失效分析等方面的工作内容和要求。基于国内元器件选择工作现况,给出提升航空电子产品元器件选用水平的若干建议。     

通过优化环境应力筛选提高电子产品可靠性

本文对国内环境应力筛选相关的标准进行了研究,通过理论计算和实际产品的试验验证两个维度对环境应力筛选进行了优化.结合我单位电路板的实际情况,研究了组件级别温度冲击中温度保持时间,温变率,温度循环次数等因素.通过对几组电路板组件温度冲击筛选度的计算,提出了最优温度循环次数的试验设计方法.通过两箱法对我公司的通信电子产品进行...     

失效机理在可靠性工程中的应用

可靠性工程技术中的众多工作项目需要建立在失效机理的基础上。了解和应用失效机理是改进产品可靠性的核心工作之一,在产品可靠性工程中被广泛应用。本文澄清了相关的基本概念,并且分析了失效机理在产品可靠性预计、寿命评估、故障模式及失效机理分析、可靠性试验以及失效分析方面的应用。     

过应力试验改善TSPC603RMG8LC芯片CBGA焊点疲劳失效中的应用

CBGA(Ceramic welding ball array package)芯片焊点疲劳失效情况是电子产品经常出现的一种故障现象。如何改善并验证CBGA芯片焊点疲劳失效工艺的有效性是目前仍没有完整的较好的方法。本文介绍了基于不同工艺的试验样品,通过对CBGA芯片焊点不同工艺情况进行过应力加速温度循环试验情况,实现了CBGA芯片焊点疲劳失效改善工艺的验证试验,提出了过应力加速试验是验证工艺改善的可行性的有效途径。     

在多平台上应用的某产品可靠性增长摸底试验设计

同一产品用在不同的两个平台上能否同时满足这两个平台的使用要求，将两个平台结合起来进行可靠性增长试验设计可以回答这个问题，并且有利于节约经费，减少时间成本。该电子产品在平台A和平台B任务不同，可靠度非常接近。在剖面设计过程中，关于两个平台的温度、湿度、电应力的设计在相同的，振动应力将两个平台结合起来设计，振动应力取结合任务时间内在两个平台上的振动极大值包络。当增长模型未知，总试验时间采用指数分布的定时截尾方案。采用QJ3217-2000中没有增长模型的可靠性增长试验方法对试验结果的可靠性下限进行评估。最后对于多平台应用的产品，将多个平台结合起来进行可靠性增长摸底试验是可行的，符合我国的国情，易于被设计师接受。     

基于阿雷尼乌斯模型开展的加速寿命试验激活能研究

目前"长寿命"已成为航空航天产品的通用要求,而整个系统的长寿命很大程度上取决于电子产品的寿命,Arrhenius模型是使用最为广泛的用于预计电子产品寿命的加速寿命试验方法之一。而在使用Arrhenius模型时,激活能一般都参照美军标中的参考值取0.5～0.7eV,该数值表征产品的失效机理。本文基于国内90年代建成的某模拟集成电路生产线生产的一款运算放大器,通过多组试验数据,拟合计算其激活能Ea,并用相同试验方法拟合出基于同一生产线的AD转换器、驱动器的激活能Ea,通过对比得出激活能Ea与哪些因素相关。     

不同橡胶加速退化规律差异性分析

针对安装于某型固体火箭发动机的天然橡胶、硅橡胶、氟橡胶三类材料开展加速老化试验,获得贮存质量变化规律,并对其寿命退化趋势对比分析。根据三类材料装配时所受不同敏感应力的特点,分别设计压缩永久变形试样、哑铃型试样开展恒定应力加速试验方法对比研究。通过对各力学性能测试数据进行退化分析,评估得到天然橡胶、硅橡胶、氟橡胶的库房贮存性能退化规律和常温(25℃)退化速率,并科学比较了三类橡胶退化规律的差异性。对比评估过程,给出性能数据的线性相关性差别,提出了不同材料最合适的评估模型,为其他型号相似产品的寿命预测提供支撑。评估结果,获得寿命薄弱环节,从而帮助型号应用时改进设计、增大失效判据,有助于延长导弹的贮存寿命。     

多媒体HALT试验及结果分析

本文通过对汽车多媒体依据GB/T 29309-2012《电工电子产品加速应力试验规程高加速寿命试验导则》进行HALT试验,结合出现的各类问题的失效分析,系统的介绍了HALT试验的全过程,给出了HALT试验设计及分析的基本思路。     

基于HALT特性的橡胶圈寿命评估研究

针对轨道交通相关组件、尤其是密封圈进入到次轮四级修所要进行的频繁维护及更换所耗费的大量人力、物力及财力，需要确定密封圈的剩余寿命，为维修及更换提供理论依据。本文首先分析密封圈的工作环境，确定密封圈的使用中主要的敏感的环境应力为温度；随后对密封圈进行HALT试验，根据压缩率确定其极限工作环境温度；最后对密封圈进行四个温度的加速寿命寿命试验，根据密封圈的压缩变形率以及基于温度的寿命评估方程阿伦尼斯方程，预估橡胶密封圈的剩余寿命，确定密封圈的剩余寿命为12 371 h。     

基于应力分析的机载电子设备可靠性加速增长试验技术研究

本文论述了基于应力分析的机载电子设备可靠性加速增长试验流程和方法,以某机载惯导产品为例说明了加速系数计算方法。这一方法对于其他机载电子产品的可靠性评估工作有一定的指导意义。     

半导体器件失效案例统计与综合分析

电子元器件是电子产品最基本的组成部分,而半导体器件通常又是关键与核心器件;半导体器件失效数占电子元器件总失效数的一半以上。本文针对半导体器件的失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析;其结果可以为从事元器件质量管理、元器件研制、采购和整机设计人员在元器件研制、采购、试验、选用和使用等全过程控制半导体器件失效提供重要的参考数据。     

电子产品的高加速寿命试验

电子产品的使用者希望产品在工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验。介绍了HALT试验的目的、优点及发展现状,通过实际的HALT试验阐述了试验剖而设计及被试验产品工作极限的确定方法,并给出试验结论,为同类产品的可靠性设计提供了依据。     

舰载武器装备产品温度-湿度两应力加速老化试验方法研究

老化是舰载武器装备上的材料、电子设备发生失效或性能退化的主要因素。加速老化试验属于可靠性试验范畴,是评价产品寿命和预测产品退化趋势的主要方式之一。在分析舰载武器服役环境和出现的老化问题的基础上,利用Peck加速模型和基于性能退化数据的评估方法,提出了一种温度-湿度两应力加速老化试验方法,并给出了应用算例。     

电子产品的可靠性试验

"电子产品的可靠性试验"顾名思义为评价分析电子产品可靠性而进行的试验.其试验目的通常有以下几个方面:(1)在产品研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预期指标的情况;(2)生产阶段为监控生产过程提供信息;(3)对定型产品进行可靠性鉴定或验收;(4)暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理;(5)为改进产品可靠性,制定和改进可靠性试验方案,为用户选用产品提供依据.     

高加速寿命试验方法设计和特性测量研究

高加速寿命试验是一种适用于研发设计阶段快速暴露产品的潜在缺陷的激发试验,它是以施加典型的试验应力并逐步增大应力强度来实现这个目的。通过这个试验,暴露产品的缺陷并实施改进和验证,拓宽产品的工作极限和破坏极限,从而提高产品的可靠性。本文基于温度及六自由度非高斯宽带随机振动应力,提出了一种高加速寿命试验方法—应力五步法,并对试验装置的关键技术特性指标的测量进行了探讨。     

应用加速应力试验更好地控制产品的可靠性

加速应力试验试验的目的不是通过试验,而是使产品失效。评估激发的各种故障到底是什么（what）,在哪里（where）,为什么（why）,然后采取纠正措施改进。本文探讨了如何利用加速应力试验（AST）技术更好地控制整个产品的可靠性以及如何恰当地进行加速应力试验,说明了对试验产品持续监测的重要性。     

基于Wiener过程的霍尔电流传感器可靠性预测

霍尔电流传感器的退化机理复杂，退化具有波动性，非线性等特征，对高可靠、长寿命的霍尔电流传感器准确进行寿命预测是一个难点。本研究通过对霍尔电流传感器进行加速退化试验，利用性能退化数据，预测了传感器的可靠性及寿命。首先分析了霍尔电流传感器工作原理和退化机理，确定将输出电流漂移作为其性能退化参数。然后由试验数据推导得到Wiener过程漂移参数和扩散参数的约束关系，结合阿伦尼乌斯模型推导得到漂移参数和扩散参数的加速模型。从而得到霍尔电流传感器在正常工作温度条件下的可靠度函数和可靠寿命。将结果与基于加速退化轨迹法的可靠性预测结果进行对比，验证了本方法的可行性。