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在电子设备的研制和设计阶段,热测试与分析是热设计中的重要环节。本文阐述了利用红外热像仪对电子设备关键部位进行热测试,检测电子设备内部温度分布情况,并与设计目标进行比较与纠正,从而达到热设计的最终目的。 相似文献
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