长寿命电子设备加速寿命试验技术研究

针对工程实际中长寿命电子设备寿命评估困难的问题,基于派克（Peck）模型建立电子设备寿命消耗与温、湿度复合应力的物理化学关系,获得电子设备在加速试验应力下相对于正常工作环境下的加速因子,结合指数分布以及可靠性鉴定和验收试验理论,利用加速因子建立寿命消耗等效折算关系,计算电子设备加速寿命试验时间,通过提高经受的应力量级,刺激薄弱环节,提高试验效率,在较短的试验时间内验证了电子设备寿命满足研制的可靠性要求。