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由于装备应用环境的复杂性,对微波器件的全温性能的要求越来越高,特别是高低温下的性能指标。当前国内微波器件生产厂商在微波器件设计研制方面具备了较强的技术能力,但对于该类器件的测试大都依据自身产品特点开发测试系统,测试一致性不高,尤其是关键指标S参数在高低温下的测试误差较大。因此需要对微波器件S参数的高低温校准、测试方法进行研究,提出一套全温在线测试方案,提高测试一致性和准确度。  相似文献   
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