一种高可靠电子产品贮存寿命评估方法

介绍了加速寿命试验的基本理论,并给出一种基于多应力加速试验的高可靠电子产品贮存寿命评估方法。首先给出一种基于多应力加速试验的电子产品贮存寿命评估流程,然后指出关键环节是根据产品特点选择合适的加速应力、加速模型,最后给出数据处理方法。该评估方法经过了工程实践,快速评估出一种高可靠产品的贮存寿命。