膜片组件贮存失效分析与加速贮存试验研究

膜片组件是影响某伺服系统贮存可靠性的关键部组件,在分析膜片组件在库房贮存条件下失效机理的基础上,通过有限元建模分析,预测了膜片组件的贮存主要失效模式。研究设计了膜片组件恒定温度应力加速贮存试验方案并实施试验,对膜片组件加速贮存试验获得的区间数据进行了插值处理,并对处理后的试验数据进行统计分析,得到了贮存条件下膜片组件的贮存期评估结论。     

加速退化试验技术研究、应用与发展

长寿命、高可靠性已经成为工业领域产品的发展目标和要求,对传统的可靠性技术研究提出了新的挑战.加速退化试验技术为长寿命、高可靠产品的寿命和可靠性研究提供了一种有效的途径,成为目前研究的热点.在总结国内外的研究成果的基础上,对加速退化试验的研究背景、试验方法、加速退化模型、工程应用和优化设计等进行了综述和研究,最后分析了加...