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某型固体继电器储存性能退化规律研究   总被引:2,自引:2,他引:0  
选用某型固体继电器在A、B、c、D等4地开展了为期131个月的库房储存试验,跟踪测试了其性能参数。应用F-检验和T-检验对其性能参数的测试数据进行了分析研究,结果表明储存131个月后,输入电流和输出接通电阻在4地有显著性的变化。通过研究4地试验样品性能参数的退化量,结果表明所有性能参数中输出接通电阻的退化量最大;4地相比,C地试验样品的输出接通电阻的退化量是最大的,A地试验样品的输出接通电阻的退化量是最小的。因此,A地最适合该型固体继电器的储存。  相似文献   
2.
本文通过分析复杂电子系统的设计特点及其对RMS的需求,借鉴国外先进成功经验,针对复杂电子系统各层次产品特点及其对传统RMS技术的挑战,提出复杂电子系统可靠性整体解决方案的思路,以抛砖引玉。  相似文献   
3.
太阳辐射是引起有机涂层老化的最主要原因。由于高原拉萨地区的太阳辐射年总量比内地同纬度高出约一倍,分别将3种同基材同镀层但不同底漆和面漆的6类常用防护涂层在高原气候条件下自然暴露试验一年。经过对比,能较快速优选出性能相对稳定的涂层。  相似文献   
4.
本文概述了一套电子产品环境试验能力数据库的开发情况。该数据库收集和整理了目前国内电子产品环境试验能力的各种信息,并在计算机技术的基础上,于服务方与客户方之间建立了一种长期以及动态的网络数据共享关系。  相似文献   
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