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电子元器件是电子产品最基本的组成部分,而半导体器件通常又是关键与核心器件;半导体器件失效数占电子元器件总失效数的一半以上。本文针对半导体器件的失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析;其结果可以为从事元器件质量管理、元器件研制、采购和整机设计人员在元器件研制、采购、试验、选用和使用等全过程控制半导体器件失效提供重要的参考数据。 相似文献
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针对实际工作中元器件使用可靠性方面存在的问题.本文通过在实际工作的经验积累和技术研究总结,在电子元器件的选择与检测控制等方面,提出了提高电子元器件使用可靠性的方法。实践证明,这些方法可以直接应用于电子元器件的工程选择与检测控制。 相似文献
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结合航空电子产品的特点,从电子产品研制单位的角度分析航空电子产品元器件可靠性选择的原则和工作要素。分析了元器件选择准则、优选目录、质量等级、筛选试验、DPA、失效分析等方面的工作内容和要求。基于国内元器件选择工作现况,给出提升航空电子产品元器件选用水平的若干建议。 相似文献
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电子产品可靠性的提高,已成为一个不可忽视、急需解决的问题。途径之一就是采用适当的防护措施,提高电子元器件的可靠性。本文研究二种电子元器件的耐潮湿环境适应性和提高其可靠性的防护工艺。 相似文献
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本文通过分析复杂电子系统的设计特点及其对RMS的需求,借鉴国外先进成功经验,针对复杂电子系统各层次产品特点及其对传统RMS技术的挑战,提出复杂电子系统可靠性整体解决方案的思路,以抛砖引玉。 相似文献
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介绍了一种军事电子系统装备在批生产过程中进行生产过程管理、技术状态管理和技术质量提升等方面工作时的考核指标体系,其从过程、质量和成本三个维度对批生产工作进行全方位考核。 相似文献
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为满足电子装备合理开展测试性试验与可靠性试验的迫切需求,通过分析现有试验的方法和实施流程,提出了电子装备测试性试验与可靠性试验存在的问题,并针对这些问题提出了一些想法和建议,对不断改进和完善试验过程具有重要指导意义。 相似文献
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集成电路是军用电子设备最重要的器件之一,集成电路的质量直接影响到军用装备的质量。从集成电路的选择、二次筛选和破坏性物理分析(DPA)这几个方面探讨了军用集成电路的质量控制方法。实践证明通过质量控制筛选得到的集成电路整批使用可靠性都有明显的提高。 相似文献
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加速寿命试验是预测产品可靠性的重要方法,在实践中得以广泛应用。本文简要分析加速寿命试验的原理,并探讨它在电子产品中的应用。 相似文献
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