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材料以及产品的环境试验方法 总被引:1,自引:1,他引:1
本文主要分析了各环境因素及其引起的失效模式,介绍了环境试验方法以及环境试验设计过程中应当注意的问题等基础知识,还给出了一些常用的环境试验标准. 相似文献
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一、耐焊接热试验 考核电子元件承受焊接所产生的热应力的能力即耐焊接热试验,属于电子元件的物理试验。 国家标准对耐焊接热的有关要求及试验方法都十分具体,例如,试验T_b方法1A规定的焊槽深度、容积大小、试前准备、元件引线浸渍位置、焊槽温度、浸渍持续时间等,还要求,试验时应在元件本体和熔融焊料之间采用厚度为1.5+0.5mm的绝热屏蔽板。CC、 相似文献
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本文针对某伺服机构控制器电路板采用故障物理方法进行失效分析,然后在不同温度应力下开展该电子产品温升试验和热仿真,之后基于Coffin-Manson模型进行产品焊点疲劳寿命仿真并求解各元器件寿命分布,最后构建竞争失效模型进行电路板寿命预计。通过温度应力试验得到了关键元器件温升值在(23~31)℃范围内,基于CRAFE热仿真得到了产品各元器件温度,应用Coffin-Manson模型得到了元器件寿命分布,运用竞争失效方法计算了产品失效概率函数,评估了产品工作10年的可靠度为0.94,在可靠度指标为0.9时其工作寿命为12.11年。本文基于温度应力试验和热仿真,通过进行故障物理分析和元器件竞争失效分析有效评估了电子产品工作寿命,对其他类似电子产品可靠性分析提供了一定参考。 相似文献
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首先陈述了贮存寿命加速试验的基本原理,介绍电磁阀的结构组成,分析了失效模式和失效机理后,采取恒定应力加速试验方法,然后运用极大似然估计和最小二乘法对数据进行处理,最后得出其贮存寿命等结论。 相似文献
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通过故障分析,将某产品高温老炼试验过程中发生的性能异常现象定位于ADC芯片部分引脚焊点脱焊。为验证芯片引脚与印制板之间的固封方式对焊点受力的影响,分别对"底部灌封+四角固封"及"底部灌封+四边固封"固封方式进行试验验证及随机振动、热应力分析。根据分析结果,高温浸泡时"底部灌封+四边固封"方式下,焊点受力均匀,最大热应力低于3MPa;而"底部灌封+四角固封"固封方式下的焊点最大热应力约5.1MPa,导致了焊点的蠕变疲劳失效。为减少高温浸泡时焊点的热应力,设计了"底部不灌胶,四边固封但一角不封口"的固封方式,并顺利通过相应的验证试验,证明这是一种较为妥当的固封方式。 相似文献
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热真空试验是航天器研制过程中非常重要的一项试验,作为满足热真空试验必不可少的工具,好的热真空试验系统可以保证试验件在不失真的情况下试验,使试验受控,而热真空试验系统温度均匀度不好,会造成过试验或欠试验的产生。文中以某型热真空试验设备为例,通过试验研究分析其温度均匀度,可以提高热真空试验的精度。 相似文献
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在电子设备的研制和设计阶段,热测试与分析是热设计中的重要环节。本文阐述了利用红外热像仪对电子设备关键部位进行热测试,检测电子设备内部温度分布情况,并与设计目标进行比较与纠正,从而达到热设计的最终目的。 相似文献
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